光频域反射技术（OFDR）可通过背向散射法测量整段光纤的回损曲线，利用回损和插损之间的关系可以得到整条曲线各个点的损耗。
图. 背向散射法测量原理
如图所示，假定DUT前后测量位置为1、2，其对应的光功率分别为P1、P2，对应的散射系数分别为α1、α2，则其对应的反射光功率分别为：Pr1=P1×α1、Pr2=P2×α2。
| 测量位置 | 1 | 2 |
| 光功率 | P1 | P2 |
| 散射系数 | α1 | α2 |
| 反射光功率 | Pr1=P1×α1 | Pr2=P2×α2 |
| 回损 | RL1=-10lg(Pr1/P0) | RL2=-10lg(Pr2/P0) |
DUT的插损为：IL=-10lg (P2/P1)
1、2处的回损分别为：RL1=-10lg(Pr1/P0)、RL2=-10lg(Pr2/P0)。
当1、2处光纤的散射系数相同时，可推导出IL=(RL1-RL2)/2。背向散射法是反射式测量，光信号往返两次经过DUT，因此需除以2。
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