昊衡科技致力于为光通信用户提供更先进、更稳定、更可靠的测试解决方案，推出了一系列光学测量测试系统。其中高分辨光学链路诊断系统（OCI）与光学矢量分析系统（OCI-V）备受大家关注，为了便于大家选择适合自己的产品，昊衡科技进行深度剖析，探究它们究竟有何不同之处。
OCI与OCI-V的不同之处主要有3方面，分别是测量原理、测量参数以及产品应用。
测量原理
高分辨光学链路诊断系统（OCI）采用的是OFDR光频域反射技术，检测待测光纤中背向瑞利散射信号，实现对光纤链路的全方位诊断；
光学矢量分析系统（OCI-V）采用线性扫频光源对带测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得各光学参数。
测量参数
高分辨光学链路诊断系统（OCI）测量分布式插损、回损、光谱、群延时等光学参数；
光学矢量分析系统（OCI-V）测量PDL（偏振相关损耗）、PMD（偏振模色散）、IL（插损）、GD（群延时）、CD（色散）等光学参数。
另外，在系统设备显示上也有所差异，OCI显示横坐标为长度，纵坐标为反射；OCI-V显示横坐标为波长，纵坐标为各待测参数，其含义是测量不同波长下的各参数值。
产品应用
高分辨光学链路诊断系统（OCI）主要应用在光器件、光模块测量，光纤长度精确测量，硅光芯片测量，光谱、群延时测量等。
OCI测量光纤链路，测得各位置处的分布式损耗，空间分辨率高达10μm。
光学矢量分析系统（OCI-V）主要针对于无源器件（平面波导器件、硅光器件、波长可调器件、放大器等）测量。
OCI-V测量HCN气体吸收室，测得不同波长下的插损，波长精度可达1.6pm。
相同点是OCI与OCI-V均产自昊衡科技，属于国产自研产品，设备自校准，无需人为干预，稳定性非常好，能精准测量各待测参数且极大节省测试时间。
现在，大家都更加了解高分辨光学链路诊断系统（OCI）与光学矢量分析系统（OCI-V）吧，如有任何问题，欢迎大家咨询！
