随着高速光通信发展，光器件种类多、迭代快，对测量仪要求更高。而在新兴平面光波导和硅光芯片领域，其对仪表测量的精确性、稳定性和操作便利性等各方面提出了前所未有的挑战。昊衡科技实现了创新突破，发布了一款重磅产品——OCI-V光学矢量分析系统。

图1 OCI-V光学矢量分析系统

OCI-V光学矢量分析系统能够同时测量光学网络损耗、偏振、色散等信息，分析光器件在宽谱、精细波长下的损耗和时延。其功能强大、操作方便，在光器件的研发、生产全过程中发挥重要作用，为改善设计、优化结构和评估工艺等提供可靠依据。

图2 PDL测量图

OCI-V光学矢量分析系统，原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损(IL)、色散(CD)、偏振相关损耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多项光学参数。系统测量长度200m，可工作在C+L或O波段，具有测量范围大、波长范围宽、覆盖器件广、测量参数多等优势。

图3 PMD测量图

OCI-V系统采用独特光路设计以及先进算法，进行智能校准，测量稳定性好，操作简单，可极大节省测试时间。昊衡科技专注于高端光学测量与传感测试系统研发和解决方案开发，拥有OFDR核心技术，现已推出OCI通信系列、OSI传感系列等多款OFDR商用产品。

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