产品描述
OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间。
产品特点
- 测量长度:200m
- 自校准
- 波段:C+L、O波段(可选)
- 1秒内测量多种光学参数
产品应用
- 平面波导器件
- 硅光器件
- 光纤器件
- 波长可调器件、放大器、滤波器
测量参数
- 偏振相关损耗PDL
- 偏振模色散PMD
- 插损IL
- 群时延GD
- 色散CD
- 琼斯矩阵参数
- 光学相位
产品参数
主要参数 | ||
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标准模式 高动态范围模式 |
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测量长度1 | 200 | m |
波段 | C+L 波段:1525~1625;O 波段:1265~1340 | nm |
波长分辨率 | 1.6 | pm |
波长精度 | ±1.0 | pm |
损耗(IL) |
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动态范围 |
60 80 |
dB |
插损精度 |
±0.1 ±0.05 |
dB |
分辨率 |
±0.05 ±0.002 | dB |
回损精度 |
±0.1 |
dB |
群时延 (GD) |
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量程 | 6 | ns |
精度 | ±0.2 ±0.1 | ps |
损耗范围 | 45 60 | dB |
色散(CD) |
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精度 | ±10 ±5 | ps/nm |
偏振相关损耗(PDL) |
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动态范围 | 40 50 | dB |
精度 |
±0.05 ±0.03 |
dB |
偏振模色散(PMD) |
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量程 | 6 | ns |
精度 | ±0.1 | ps |
损耗范围 | 40 50 | dB |
硬件 |
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主机功率 | 60 | W |
通讯接口 | USB | - |
光纤接口 | FC/APC | - |
尺寸 | D 390 * W 345 * H 165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
储存温度 | 0 ~ 50 | ℃ |
储存与工作温度 | 10 ~ 40 | ℃ |
定制功能2 |
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测量长度 |
100 | m |
空间分辨率 |
10μm@50m 20μm@100m | μm |
回损测量范围 |
-125~0 |
dB |
插损动态范围 |
18 |
dB |
插、回损分辨率 |
0.05 |
dB |
插、回损精度 |
±0.1 |
dB |
备注:
- 透射模式测量长度200m,可拓展反射模式,测量长度为100m;
- 光矢量分析仪(OCI-V)可拓展OFDR功能,测量光纤链路。
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