OCI-V 光矢量分析系统

产品描述

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间。

产品特点

  • 测量长度:200m
  • 自校准
  • 波段:C+L、O波段(可选)
  • 1秒内测量多种光学参数

产品应用

  • 平面波导器件
  • 硅光器件
  • 光纤器件
  • 波长可调器件、放大器、滤波器

测量参数

  • 偏振相关损耗PDL
  • 偏振模色散PMD
  • 插损IL
  • 群延时GD
  • 色散CD
  • 琼斯矩阵参数
  • 光学相位

产品参数

主要参数

标准模式                  高动态范围模式

测量长度1 200 m
波段 C+L 波段:1525~1625;O 波段:1265~1340 nm
波长分辨率 1.6 pm
波长精度 ±1.0 pm
损耗(IL)

动态范围 60                      80
dB
插损精度 ±0.1                     ±0.05
dB
分辨率
±0.05                   ±0.002 dB
回损精度
±0.1
dB
群延时 (GD)

量程 6 ns
精度 ±0.2                     ±0.1 ps
损耗范围 45                      60 dB
色散(CD)

精度 ±10                    ±5 ps/nm
偏振相关损耗(PDL)

动态范围 40                       50 dB
精度 ±0.05                     ±0.03
dB
偏振模色散(PMD)

量程 6 ns
精度 ±0.1 ps
损耗范围 40                        50 dB
硬件

主机功率 60 W
通讯接口 USB -
光纤接口 FC/APC -
尺寸 D 450 * W 450 * H 166 mm
重量 18.5 kg
储藏温度 0 ~ 50
工作温度 10 ~ 40
工作湿度 10 ~ 90 %RH
定制功能2
测量长度
50                          100
m
空间分辨率
10                            20
μm
回损测量范围
-125~0
dB
插损动态范围
18
dB
插、回损分辨率
0.05
dB
插、回损精度
±0.1
dB

备注:
  1. 透射模式测量长度200m,可拓展反射模式,测量长度为100m;
  2. 光矢量分析仪(OCI-V)可拓展OFDR功能,测量光纤链路;
  3. 产品参数均可根据用户需求进行定制。

资料下载

OCI-V 光矢量分析系统 产品单页.pdf

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