OFDR设备通过测量光纤中背向瑞利散射光，具有较高空间分辨和回损插损测量精度，可以快速并准确地获取全链路任意位置的回损和插损特性。

通常设备插损测量动态范围为18dB，即待测链路累积插损需小于9dB。若待测链路累积插损超出动态范围，一部分光纤段的瑞利散射信号低于OFDR设备底噪而被淹没，则测量结果不准确。针对此类情况，我们提出以下解决方案，借助光环行器实现传输模式下大插损测量。

图1 功率计测量DUT和两个FC法兰盘的插损

待测样品为一个固定衰减器，两端分别连接OCI1500和功率计，测得DUT和两个FC法兰盘的总插损为15.0dB。

图2 连接DUT，OCI测量原理图

OCI1500连接一个三端口光环行器，其输出光进入环行器端口2，从端口3输出，经过待测样品后进入端口1，信号光从端口2输出最终到达OCI1500探测器。

图3 连接DUT，OCI测量结果图

OCI1500测量链路结果如图3所示，距离-回损曲线在2.95710m位置出现最大尖峰，这里是环行器位置，测得积分回损为-18.93dB。

图4 不连接DUT，OCI测量原理图

当不连接测试样品DUT，其测量原理图和测量结果如图4、图5所示。

图5 不连接DUT，OCI测量结果图

距离-回损曲线最大尖峰位置移到1.86528m，测得积分回损为-4.14dB。DUT和一个法兰盘的总插损为14.79dB (=18.93dB -4.14dB)。OFDR测量插损结果与功率计测量结果相差0.2dB，其中功率计测量方法多一个法兰盘。

不同于OFDR反射模式的分布式测量，OFDR传输模式下测量的是待测样品整个链路的总插损，可以实现超出动态范围的大插损测量，进一步扩展OFDR设备使用场景。